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PRODUCT CENTER


定量背散射電子(BSE)采集系統。
一、設備亮點
背散射電子采集(BSE Acquisition)—— 通過任意掃描電子顯微鏡(SEM)或聚焦離子束 - 掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)實現實時校準的高度測量。
借助定量背散射電子(qBSE)技術,能夠以高空間分辨率繪制材料密度分布圖并表征物相分布。該技術通常應用于平整拋光的樣品,若與電子幾何形貌分析(Electron Topography for Geometrical Analysis)結合,也可用于三維表面分析。此外,它還可在已知成分的系統中進行物相識別,幫助研究人員獲取材料特性的定量信息,例如晶體結構、物相分布及原子組成。
這套 qBSE 系統能夠呈現二次電子(SE)技術無法觀測到的原子序數 / Z 襯度,生成高分辨率材料密度圖,執行電子通道襯度成像(ECCI)和取向襯度(OC)分析,對包括溫度超過 1000℃的高溫樣品進行表征,并捕捉 4K 彩色圖像用于制作掃描電子顯微鏡(SEM)視頻。
該系統由硬件、軟件和可選配置組成。

顯示Z襯度
? 揭示土壤結構并識別礦物成分
? 確定生物結構中成分的變化
? 對納米顆粒的形狀、大小和分布進行成像

電子通道襯度
? 在掃描電子顯微鏡中識別位錯、堆垛層錯和晶界
? 對晶粒的晶體學取向進行成像
? 繪制晶格畸變圖

密度測量
? 對鋼和合金中晶粒的分布、形狀進行成像
? 測量骨骼中礦物質濃度的變化
? 識別金屬基復合材料中的物相并測量面積分數

加快背散射電子工作流程
? 借助高速背散射電子探測器進行大樣品的圖像導航
? 無需切換至二次電子成像即可校準掃描電子顯微鏡
? 通過高速線平均和幀平均最大限度減少樣品充電

彩色圖像和動畫
? 利用背散射電子信號對掃描電子顯微鏡圖像進行彩色化處理
? 生成用于出版物的高質量圖像
? 獲取基于時間或旋轉的系列圖像以制作視頻

記錄原位加熱過程
? 觀察結晶、回復和燒結現象
? 利用環境掃描電子顯微鏡記錄生長動態
? 量化高溫下的蠕變和斷裂

三維重建
? 通過實時掃描電子顯微鏡形貌測量表面高度
? 利用三維掃描電子顯微鏡了解生物樣品的體積
? 通過三維掃描獲取微觀三維模型
二、設備硬件

高級BSE探測器
? 四象限硅傳感器,適用于高級BSE工作
? 原位前置放大,實現最佳效率和速度
? 低kV傳感器

MICS信號放大器
? 用于擴展成像通道,從4倍到16倍
? 通道獨立控制亮度和對比度
? 高級輸入偏移、增益控制和校準功能
? 通過USB2控制,與顯微鏡控制軟件完全集成
? 可選裝于BSE縮回機構中

DISS6掃描電鏡掃描控制器
? 高性能校準電子設備,用于圖像采集
? 集成化、自動化的BSE信號放大功能
? 能真正同時采集所有BSE信號
三、設備軟件

DISS6 圖像采集
? 集成圖像采集和放大器控制軟件
? 用于顏色混合、電流-電壓(IV)和線掃描的高級工具
? 校準圖像數據的檢查和導出功能

DIPS6 圖像處理
? 用于顯示定量圖像數據的軟件
? 檢查元數據中的采集設置
? 提取定量像素值
四、可選配置

3D校準標準
? 用于X、Y、Z校準的基于標記的3D結構
? 可溯源至德國聯邦物理技術研究院(PTB)的參考信息
? 帶有用于自動校準的參考標記

原子序數參考樣品
? 帶有法拉第杯和背散射電子(BSE)參考材料的掃描電鏡樣品臺
? 系列參考樣品具有遞增的原子序數
? 參考材料表面經過拋光,可呈現純粹的成分對比度

DISS6地形采集插件
? 用于背散射電子(BSE)地形實時重建和可視化的軟件
? 定量圖像采集和探測器控制
? 高度和紋理保存為標準文件格式

微觀形貌
? 背散射電子(BSE)地形數據的離線3D查看器
? 3D空間中線輪廓、高度、距離和角度的測量
? 3D數據處理,包括數據校正和疊加

微型計算
? 離線3D校準和報告軟件
? 所有坐標軸之間比例尺和剪切的自動計算
? 非線性掃描偏差分析
400-606-8199
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